İanələr 15 sentyabr 2024 – 1 oktyabr 2024 Vəsaitlərin toplanılması haqqında

Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Main
Сканирующая туннельная микроскопия...

Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова

0 / 0

Bu kitabı nə dərəcədə bəyəndiniz?

Yüklənmiş faylın keyfiyyəti necədir?

Kitabın keyfiyyətini qiymətləndirə bilmək üçün onu yükləyin

Yüklənmiş faylların keyfiyyəti necədir?

Dil:

russian

Səhifələr:

40

Fayl:

PDF, 1.40 MB

IPFS:

,

russian0

Onlayn oxumaq

formatına konvertasiya yerinə yetirilir

formatına konvertasiya baş tutmadı

Bəlkə Sizə maraqlıdır

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Пронин Александр Александрович — Физические основы нанотехнологий

Ситанов Д.В. — Методы исследования материалов и структур

Никитин — Ультразвуковые медицинские диагностические системы

Кухаренко, Л. В. — Сканирующая зондовая микроскопия для анализа медико-биологических объектов

Габдуллин П.Г. и др. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Гамов Евгений Степанович, Ребинский Григорий Альбертович, Тонковид Сергей Борисович, Гуляева Евгения Юрьевна, Игнатова Маргарита Игоревна — Сканирование и получение качественной трехмерной модели объекта в дизайне и технологии художественной обработки материалов на 3D сканере Range Vision Smart

Кащенко А. П., Ленчегов О. К., Строковский Г. С., Строковская С. Е. — Использование оптической микроскопии в материаловедческих исследованиях. Дислокационная структура кристаллического материала и ее характеристики. Измерение микротвердости. Определение механических свойств металла при испытании на растяжение

Тарасова Н. В. — Атомно-силовая микроскопия в материаловедении наносистем

А. Р. Хайруллин — Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Авачёв А. П., Вишняков Н. В., Гололобов Г. П., Митрофанов К. В. — Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Андреева Н.В., Габдуллин П.Г. — Физика и диагностика биомолекулярных систем. Исследования методами зондовой микроскопии

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Томина Елена Викторовна, Миттова Ирина Яковлевна, Сладкопевцев Борис Владимирович, Книрова Мария Викторовна — Практикум синтез и исследование нанодисперсных систем

Канюков В. Н. — Компьютерные технологии в медико-биологических исследованиях. Ч. 1

Владимирова Л. Н., Бормонтов Е. Н., Петраков В. И. — Определение удельного сопротивления полупроводников четырехзондовым методом

Роготовский — Исследование структуры чугунов и сталей с помощью металлографического инвертированного микроскопа (80,00 руб.)

Каныгина О. Н. — Определение твердости твердых тел (80,00 руб.)

coll. — Методы получения и исследования нанопорошков

Лавлинский Александр Викторович, Мазурова Ирина Эдуардовна — Основы световой микроскопии и цифровой макро- и микрофотографии (90,00 руб.)

Канюков В. Н. — Компьютерные технологии в медико-биологических исследованиях. Ч. 1 (190,00 руб.)

Малышев К. В. — Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Ч. 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов Ч.1

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Açar ifadələr

поверхности

aгентство

микроскопа

туннельного

изображения

сканирования

изображений

состояний

изображение

напряжения

расстояние

сканировании

управления

образцом

постоянного

микроскоп

микроскопия

сканирующая

микроскопов

обратной

значения

зондовых

плоскости

поверхность

туннельная

туннельный

вычитание

относительно

плотности

поверхностью

приводит